Методики сканирования

При использовании Контактных методик кантилевер изгибается под действием сил отталкивания, действующих на зонд.

Сигнал Рассогласования системы обратной связи, возникающий в процессе сканирования с использованием Метода Постоянной Силы содержит дополнительную информацию относительно рельефа поверхности.

Позволяет различать области с различными коэффициентами трения, а также подчеркивать особенности рельефа поверхности.

Отображение Сопротивления Растекания возможно при использовании проводящего зонда ССМ, находящегося в контакте с поверхностью образца.

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика (СМП) заключается в локальном воздействии на пьезоэлектрический образец электрическим полем и анализе результирующего смещения его поверхности под зондом

В процессе реализации Метода Модуляции Силы одновременно со сканированием образца в соответствии с Методом Постоянной Силы сканер (или образец) совершает вертикальные периодические колебания.

Прежде всего, при использовании этого метода давление кантилевера на поверхность образца существенно меньше, что позволяет работать с более мягкими и легко разрушающимися материалами.

Позволяет получать ценную информацию в широкой области применений, в некоторых случаях отображая неочевидные контрасты свойств материалов.

Измерение сил в ССМ производится путем накопления силовых кривых, которые представляют собой зависимости отклонений кантилевера от положения образца вдоль z-оси.

При выборе амплитуды колебаний кантилевера можно достичь условий, когда по всей исследуемой поверхности образца бистабильность будет отсутствовать.

Из анализа сдвига частоты колебаний кантилевера от расстояния можно определить зависимость силы взаимодействия зонд-образец от расстояния.

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) является эффективным средством исследований магнитных структур на субмикронном уровне.

В общем случае Электростатическая Силовая Микроскопия (ЭСМ) может быть использована в нескольких вариантах, в зависимости от типа исследуемого образца и вида необходимой информации.

Метод Постоянного Тока (МПТ) предполагает поддержание в процессе сканирования постоянной величины туннельного тока с помощью системы обратной связи.

При использовании Метода Постоянной Высоты (МПВ) сканер СТМ перемещает зонд только в плоскости, так что изменения тока между острием зонда и поверхностью образца отражают рельеф поверхности.

Спектроскопические измерения Локальной Высоты Барьера (ЛВБ спектроскопия) позволяет получать информацию о пространственном распределении микроскопической работы выхода поверхности.

Хорошим примером влияния Локальной Плотности Состояний (ЛПС) на СТМ изображение является хорошо известное изображение атомной решетки высокоориентированного пиролитического графита (ВОПГ).

Проведение I(V) Спектроскопии (CITS) предполагает одновременное получение обычного изображения рельефа при фиксированных значениях тока I и напряжения смещения V.

I(z) Спектроскопия тесно связана с ЛВБ спектроскопией и может быть использованан для получения информации о z-зависимости микроскопической работы выхода поверхности.