Пресс-центр: Новости НТ-МДТ

Активная Фотоника провела экскурсию для участников конференции

13 июля 2026 г.

Активная Фотоника провела экскурсию для участников конференции

С 29 июня по 3 июля в Зеленограде проходила II Международная конференция «Функциональные Х алькогениды: физика, технология и применение». На нее съехались ведущие исследователи, разработчики, специалисты предприятий и научных организаций со всей России, а также других стран. Участники обсуждали создание, исследование и применение функциональных халькогенидных материалов, крайне необходимых для развития микроэлектроники, фотоники, энергетики и смежных областей науки  и техники.

Подробнее
Активная Фотоника разработала инновационный аппаратный автофокус

30 июня 2026 г.

Активная Фотоника разработала инновационный аппаратный автофокус

Новый аппаратный автофокус от компании «Активная Фотоника» обеспечивает непрерывную стабилизацию фокуса в режиме реального времени. Система мгновенно отслеживает малейшие смещения образца по отраженному сигналу, компенсируя механические вибрации и тепловой дрейф. Прибор монтируется через стандартный оптический порт и гарантирует стабильную резкость на протяжении многих часов работы. Он полностью автоматизирует рутинную настройку оптики в исследовательских и промышленных комплексах, являясь само…

Подробнее
Бесплатный вебинар: "Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии" Часть 2

22 июня 2026 г.

Бесплатный вебинар: "Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии" Часть 2

30 июня в 13:00 состоится третий вебинар в рамках серии бесплатных научно-практических вебинаров, посвященных атомно-силовой микроскопии.

Подробнее
Активная Фотоника — лидер продаж контрольно-измерительного оборудования

17 июня 2026 г.

Активная Фотоника — лидер продаж контрольно-измерительного оборудования

В Минске 16 июня состоялась церемония награждения лучших предприятий России и Беларуси, разрабатывающих и производящих современное электронное оборудование. Это произошло во время пленарного заседания отраслевой конференции «Электронное машиностроение – 2026» на тему «Государственная политика в сфере электронного машиностроения.

Подробнее
Бесплатный вебинар: "Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии" Часть 1

18 мая 2026 г.

Бесплатный вебинар: "Физические принципы работы атомно-силовой микроскопии" Часть 1

26 мая в 13:00 состоится второй вебинар в рамках серии бесплатных научно-практических вебинаров, посвященных атомно-силовой микроскопии.

Подробнее
С Днем Победы!

9 мая 2026 г.

С Днем Победы!

Поздравляем вас с Днём Победы — 9 Мая!

Подробнее
Работать на атомно-силовом микроскопе научат в виртуальной реальности

29 апреля 2026 г.

Работать на атомно-силовом микроскопе научат в виртуальной реальности

Научиться работать с атомно-силовым микроскопом теперь можно, даже не имея под рукой столь сложного научного оборудования. Разработка ИТМО в сотрудничестве с компанией НОВА СПб (ГК "НТ-МДТ") - VR-лаборатория дает возможность, надев очки виртуальной реальности, выполнять практические задания и осваивать возможности современного прибора.

Подробнее
Бесплатный вебинар "Микроскоп как измерительный прибор: АСМ в контексте развития метода"

20 апреля 2026 г.

Бесплатный вебинар "Микроскоп как измерительный прибор: АСМ в контексте развития метода"

28 апреля в 13:00 состоится первый вебинар в рамках серии бесплатных научно-практических вебинаров, посвященных атомно-силовой микроскопии.

Подробнее
Праздник Светлой Пасхи для воспитанников приюта

17 апреля 2026 г.

Праздник Светлой Пасхи для воспитанников приюта

В преддверии православной Пасхи представители ГК "НТ-МДТ" навестили воспитанников приюта Евфросинии Московской, чтобы разделить с ними радость светлого праздника.

Подробнее
НТ-МДТ запускает серию бесплатных научно-практических вебинаров

15 апреля 2026 г.

НТ-МДТ запускает серию бесплатных научно-практических вебинаров

Группа компаний «НТ-МДТ» запускает серию бесплатных научно-практических вебинаров, посвящённых одному из самых востребованных методов исследования наноструктур и поверхностей «Атомно-силовая микроскопия: от физических принципов к корректному измерению и анализу данных».

Подробнее

Загружаем новости...

Все новости загружены.