Пресс-центр: Новости НТ-МДТ
25 июля 2025 г.
Биополимеры будущего: «НТ-МДТ» и СФУ изучают ПГА на наноуровне
ГК «НТ-МДТ» и Сибирский федеральный университет ведут совместные исследования биоразлагаемых полигидроксиалканоатов (ПГА) — перспективных биоматериалов для медицины и экологии. Синтез новых полимеров в СФУ дополняется наноисследованиями их структуры и свойств на оборудовании ГК «НТ-МДТ» в Центре зондовой микроскопии Университета ИТМО.
22 июля 2025 г.
uSTEP 300 на ИННОПРОМ-2025: «Активная Фотоника» показывает будущее контроля
На крупнейшей промышленной выставке России «Иннопром-2025» в Екатеринбурге компания «Активная Фотоника» (ГК «НТ-МДТ») представила профилометр uSTEP 300 на коллективном стенде правительства Москвы. Прибор объединил методы контактного и неразрушающего контроля, привлёк внимание экспертов микроэлектроники и стал точкой притяжения технологических дискуссий.
9 июля 2025 г.
НТ‑МДТ в школе в Красноярске: реальный нанoанализ образцов и новые промышленные полимеры
В Сибирском федеральном университете прошла Школа‑семинар «Актуальные вопросы физики функциональных материалов», где ГК «НТ‑МДТ» представила современные решения для исследования наноструктур. Участники смогли увидеть работу оборудования вживую, обсудить задачи функциональных материалов и перспективы совместных проектов с университетом.
1 июля 2025 г.
Делаем добро вместе: ГК «НТ‑МДТ» поздравила с 10‑летием детский приют в Коломне
Группа компаний «НТ‑МДТ» приняла участие в юбилее детского приюта Преподобной благоверной княгини Ефросинии Московской в Коломне. Для ребят подготовили праздничную программу и подарки, уделив внимание каждому ребенку. Компания продолжает развивать благотворительные инициативы и поддерживать тех, кому особенно важно забота и участие.
19 июня 2025 г.
Новая установка «Активной Фотоники»: биоструктуры под АСМ‑зондом и в рамановском спектре
На площадке «Активной Фотоники» (ГК «НТ‑МДТ») создан пилотный образец исследовательской системы для детального анализа биологических структур. Совместно с НОЦ инфохимии Университета ИТМО инженеры объединили в одном комплексе сразу два высокоточных метода, открыв путь к новым форматам экспериментов в биомедицине и смежных областях.
10 июня 2025 г.
«Фронтиры прогресса»: NTEGRA Spectra от «Активной Фотоники» в Сколково
Компания «Активная Фотоника» (ГК «НТ-МДТ»), резидент «Сколково», приняла участие в конференции Сколтеха «Фронтиры прогресса». На стенде компании работала сканирующая зондовая нанолаборатория NTEGRA Spectra, а гости могли провести измерения собственных образцов и обсудить задачи нанодиагностики с экспертами.
4 июня 2025 г.
Атомно-силовые микроскопы NTEGRA используют при разработке гибких сенсоров света нового поколения
С применением атомно-силового микроскопа NTEGRA ACADEMIA (производство Группы компаний НТ-МДТ, Россия), научный коллектив из РТУ МИРЭА проводит исследование поверхностей и разработку фотодетекторов, которые могут стать основой для нового поколения умных часов, фитнес-трекеров и других носимых гаджетов.
26 апреля 2025 г.
Юные физики и наномир: «Активная Фотоника» на церемонии РАН
На церемонии награждения победителей V всероссийской викторины юных физиков РАН «Активная Фотоника» получила благодарность от президента РАН за поддержку проекта. Школьники смогли вживую познакомиться с современным Сканирующим Зондовым Микроскопом NTEGRA Prima и задать вопросы инженерам компании.
25 апреля 2025 г.
Передовой нанoанализ и метрология: решения НТ‑МДТ на Международной выставке в Крокус‑Экспо
Группа компаний «НТ‑МДТ» через авторизованного дистрибьютора ООО «Сэнграл» представила на профильной выставке в Крокус‑Экспо современные решения для наноисследований и метрологии. Экспозиция объединила оборудование для комплексного анализа материалов – от сканирующей зондовой нанолаборатории до универсальной системы профилометрии для микроэлектроники.
18 апреля 2025 г.
uSTEP 300 в действии: «Активная Фотоника» на ExpoElectronica 2025
ООО «Активная Фотоника» представила на международной выставке ExpoElectronica 2025 многофункциональный профилометр uSTEP 300. Гости стенда увидели работу системы в реальном времени и оценили её возможности для контроля качества полупроводниковых пластин и электронных компонентов.